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 Bi系超電導体における添加物の臨界電流密度に与える効果
  中村, 光寿; 井戸, 敏之; 寺田, 弘; 後藤, 英雄, 1998.12. -- (中部大学工学部紀要 ; 34巻 (1998.12)). w.  <XC10102226>
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書誌
タイトル
Bi系超電導体における添加物の臨界電流密度に与える効果
タイトル(その他)
Effects of Impurities on Critical Current Density in Bi-System Superconductors
作成者
中村, 光寿||ナカムラ, ミツヒサ||Nakamura, Mitsuhisa
作成者
井戸, 敏之||イド, トシユキ||Ido, Toshiyuki
作成者
寺田, 弘||テラダ, ヒロシ||Terada, Hiroshi
作成者
後藤, 英雄||ゴトウ, ヒデオ||Goto, Hideo
公開者
中部大学工学部
書誌構造リンク
ISSN
21877408
XISSN
09108629
雑誌名
中部大学工学部紀要
巻次等
34
開始終了ページ
23-26
発行日
1998.12
主題
Bi-2223 superconductor, critical current, impurity doping, pinning center
登録日
2011.03.03
資源タイプ
紀要論文
資料種別(NIIタイプ)
Departmental Bulletin Paper
フォーマット
PDFファイル
著者版フラグ
publisher
機関名
中部大学
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