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 Correlation between Current Collapse Phenomena and Deep-Level Defects in AlGaN/GaN Hetero-Structures Probed by Deep-Level Optical Spectroscopy
  中野, 由崇, 2011.03. -- (総合工学 ; 23巻 (2011.3)). w.  <XC11000058>
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書誌
タイトル
Correlation between Current Collapse Phenomena and Deep-Level Defects in AlGaN/GaN Hetero-Structures Probed by Deep-Level Optical Spectroscopy
作成者
中野, 由崇||ナカノ, ヨシタカ||Nakano, Yoshitaka
公開者
中部大学総合工学研究所
書誌構造リンク
ISSN
09153292
雑誌名
総合工学
巻次等
23
開始終了ページ
16-21
発行日
2011.03
主題
AlGaN/GaN hetero-structure, current collapse, deep level, deep-level optical spectroscopy
内容記述
We have investigated electronic deep levels in two AlGaN/GaN hetero-structures with different current collapses grown at 1150 and 1100C by a deep-level optical spectroscopy technique, using Schottky barrier diodes. Three specific deep levels located at ~2.07, ~2.80, ~3.23eV below the conduction band were found to be significantly enhanced for the severe current collapse, being in reasonable agreement with photoluminescence and capacitance-voltage characteristics. These levels probably originate in Ga vacancies and residual C impurities, and are probably responsible for the current collapse phenomena of the AlGaN/GaN hetero-structures.
登録日
2012.02.27
資源タイプ
論文
資料種別(NIIタイプ)
Departmental Bulletin Paper
フォーマット
PDFファイル
著者版フラグ
publisher
機関名
中部大学
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