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 電気伝導性薄膜のキャリア輸送係数を一括測定できる計測系の構築
  山田, 直臣; 多賀, 康訓, 2012.03. -- (総合工学 ; 24巻 (2012.3)). w.  <XC12000039>
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書誌
タイトル
電気伝導性薄膜のキャリア輸送係数を一括測定できる計測系の構築
タイトル(その他)
デンキ デンドウセイ ハクマク ノ キャリア ユソウ ケイスウ オ イッカツ ソクテイ デキル ケイソクケイ ノ コウチク
タイトル(その他)
A Measurement System for Simultaneous Determination of Carrir Transport Coefficients in Conducting Thin Films
作成者
山田, 直臣||ヤマダ, ナオオミ||Yamada, Naoomi
作成者
多賀, 康訓||タガ, ヤスノリ||Taga, Yasunori
公開者
中部大学総合工学研究所
書誌構造リンク
ISSN
09153292
雑誌名
総合工学
巻次等
24
開始終了ページ
10-16
発行日
2012.03
主題
Thermoelectric power, oxide semiconductors, carrier transport mechanism
内容記述
We have fabricated an electrical measurement system which allows us to simultaneously determine electrical resistivities and thermoelectric powers of semiconducting thin films. In this paper, we present the configuration of the measurement system and measurement results for some semiconducting oxide thin films. The measurement results demonstrated that this system is useful for the study on electronic transport properties including the type of majority carriers (p- or n-type), carrier densities, and scattering mechanism.
登録日
2012.08.02
資源タイプ
論文
資料種別(NIIタイプ)
Departmental Bulletin Paper
フォーマット
PDFファイル
著者版フラグ
publisher
機関名
中部大学
外部リンク
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